ST-20掌上型方塊電阻測試儀
發布時間：2019-02-26 13:01:47 作者：深圳市君達時代儀器有限公司 閱讀: 7913 次
ST-20掌上型方塊電阻測試儀 ST-20掌上型方塊電阻測試儀 是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄
ST-20掌上型方塊電阻測試儀
ST-20掌上型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
ST-20掌上型方塊電阻測試儀
1、采用九十年代推出的大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩定
2、低功耗
3、采用單個電池供電，帶電池欠壓指示
4、 儀器體積僅為：130mmX65mm X23mm
5、 特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜
6、探頭帶抗靜電模塊
ST-20掌上型方塊電阻測試儀
ST-20掌上型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
ST-20掌上型方塊電阻測試儀
1、采用九十年代推出的大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩定
2、低功耗
3、采用單個電池供電，帶電池欠壓指示
4、 儀器體積僅為：130mmX65mm X23mm
5、 特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜
6、探頭帶抗靜電模塊
ST-20掌上型方塊電阻測試儀
| 測量范圍 |
基本量程：方塊電阻10.0-199.9(Ω/口) 擴展量程：方塊電阻100-1999(Ω/口) |
| 測量不確定度 | ≤5% |
| 探針規格 | 探針間距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ |
| 恒流源 | 測量過程誤差：≤±0.8% |
| 電源 | 9V疊層電池1節 |
上一篇：
RTS-3型手持式四探針測試儀
下一篇：
ST-21L方塊電阻測試儀
熱門產品推薦
菲希爾兩用測厚儀 DUALSCOPE MP0R一體化兩用測厚儀,MP0R USB 微型一體化雙顯示屏兩用測厚儀，同時具有磁感應和渦流兩種測量功能,并可通過隨機附帶的連接電纜及軟件和電腦連接輸出測量數據。
844筆式電極（含電極體+探針+BNC轉接頭） 19297：DESCO品牌，整套電極（含電極體+探針+BNC轉接頭） 770757：SCS品牌，整套電極（含電極體+探針+BNC轉接頭） 844：老款型號，現改為19297和770
克列茨 KEW 6305 電能質量分析儀 外部儲存變為了SD卡，改善了購買難度 自動識別鉗形傳感器，增加了自動量程 即使在測量時停電或錯誤關機，當前數據仍會被保留 藍牙無線通訊功能 可
XQ-2B型鑲嵌機 XQ-2B型鑲嵌機 屬于磨拋前一道工序，對于微小、不易手拿或不規則的金相、巖相試樣進行鑲嵌，經鑲嵌后便于對試樣進行磨拋操作，也有利于在金相顯微鏡下正確觀看理想
WDG-I單向刮漆試驗儀用于檢測漆包扁線的漆膜耐刮性能。該儀器采用單片機控制，試驗時只要鍵入所加砝碼重量，儀器即能自動完成放下刮桿、刮破停機、計算并顯示刮破力及平均刮破力。扁線測試顯示每次的刮破力和平均刮破力。
儀器操作簡單，靈敏度高，重復性能好，穩定可靠，造型美觀。
美國DeFelsko公司PosiTest AT Verifier附著力測試儀精度檢定裝置，用于檢定附著力測試儀的精度，滿足ISO標準和內部質量控制的要求。
