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FM-204G飼料顆粒谷物硬度計
日期:2025-01-15 22:35:59 點擊:520
FM-204G飼料顆粒谷物硬度計是我公司最新設計研發的一種數顯式谷物飼料顆粒硬度計。其具有高精度、易操作、攜帶方便等優點??茖W的使用測試范圍為滿量程的10%~100%,計量部門建議不要使用滿量程的1%以下部分。同時,在儀器和被測試物就位后開始測試前,按ZERO(置零)鍵清零以消除夾具等重量
FM-204T片劑硬度計
日期:2025-01-15 22:28:11 點擊:551
FM-204T系列片劑硬度計是我公司最新設計研發的一種數顯式片劑硬度計。其具有高精度、易操作、攜帶方便等優點??茖W的使用測試范圍為滿量程的10%~100%,計量部門建議不要使用滿量程的1%以下部分
LW-20韋氏硬度計LW-20A/LW-20B/LW-B75/LW-B75B/LW-BB75/LW-BB75B
日期:2025-01-14 22:32:20 點擊:511
LW-20韋氏硬度計LW-20A/LW-20B/LW-B75/LW-B75B/LW-BB75/LW-BB75B用于快速檢測鋁合金型材、管材、板材、鋁工 件及其他軟金屬的硬度。是一種可現場快速測試鋁合金硬度的儀器。韋氏硬度計使用方便,一卡即可,硬度值直接讀出。 用于快速檢測鋁合金型材、管材、板材、鋁工件及其他軟金屬的硬度。特別適于在生產現場、銷售現場或施工現場對成批產品進行快速、非破壞性的逐件合格檢查。
MRX-XJB-4-500mL小型行星真空攪拌機
日期:2024-11-07 20:00:49 點擊:572
MRX-XJB-4-500mL小型行星真空攪拌機本產品是集真空混合、分散為一體的高效設備,適用于電池實驗過程中正,負極漿料混合工序,以及粉狀材料、各種陶瓷的混合;由于攪拌在真空狀態完成,完全實現了無氣泡,因此提高了材料的填充性及模型的致密性。
菲希爾FMP30 鐵素體儀FERITSCOPE_FMP30
日期:2024-10-20 21:26:22 點擊:705
菲希爾FMP30 鐵素體儀FERITSCOPE_FMP30侵蝕性物質以及高壓的情況下,鐵素體含量至關重要。特別是涉及到化工廠、能源設施及工廠中的現場測量時,FISCHER 手持式設備的優勢將非常顯著。為 FERITSCOPE FMP30 提供多種探頭,通過這些探頭,即使在難以觸及的區域中也能夠可靠地測定鐵素體的含量。
菲希爾SIGMASCOPE SMP350測定非鐵磁性金屬電導率儀
日期:2024-10-20 21:25:19 點擊:725
菲希爾SIGMASCOPE SMP350測定非鐵磁性金屬電導率儀適用于測定非鐵磁性金屬(如鋁或銅)的電導率。通過測得的電導率能夠進一步得出與熱處理材料的硬度與強度相關的結論。從而建立熱損傷與材料疲勞的證據。為此儀器使用了相敏渦流法。該方法經認證可用于符合標準 DIN EN 2004-1 與 ASTM E 1004 的電導率測量。
菲希爾貴金屬檢測SIGMASCOPE? GOLD
日期:2024-10-20 21:24:39 點擊:737
菲希爾貴金屬檢測SIGMASCOPE? GOLD破壞性的測試會導致一定量的價值損失。隨著產品線SIGMASCOPE GOLD和X射線的推出,FISCHER提供了兩種無損的方法,在貴金屬幣和金條的真假需要快速、精確的測試時相得益彰
菲希爾CMS2/STEP庫倫儀COULOSCOPE? CMS2庫侖法金屬鍍層厚度測厚儀
日期:2024-10-20 21:23:43 點擊:730
菲希爾CMS2/STEP庫倫儀COULOSCOPE? CMS2庫侖法金屬鍍層厚度測厚儀作為測量鍍層厚度最簡單的方法之一,庫侖法可以用于各種鍍層組合。 尤其對于多鍍層結構, 當允許破壞性測量時,它提供了一個比X射線更經濟的替代方法。
菲希爾Fischer MMS? INSPECTION DFT+DMP+SPG
日期:2024-10-20 21:19:53 點擊:703
菲希爾Fischer MMS? INSPECTION DFT+DMP+SPG用于測量和記錄與涂裝過程有關的所有氣象參數。SPG機型可以在瞬間完成對表面粗糙度的測量。所有這三款儀器都包含于我們的防腐套裝之中。另外還可選擇Bresle鹽分分析套件,用于快速簡便地測量表面鹽污染情況。
菲希爾ST30微米劃痕儀全自動劃痕儀
日期:2024-10-20 21:19:03 點擊:732
菲希爾ST30微米劃痕儀全自動劃痕儀簡介可以用于分析薄膜及涂層材料的結合力和附著力等特性,例如PVD、CVD、PECVD薄膜、感光薄膜、彩繪釉漆、光學薄膜、微電子鍍膜、保護性薄膜、裝飾性涂層等材料表面的附著力、斷裂及形變分析,基體可以為軟質或硬質材料,包括金屬、合金、橡膠、半導體、玻璃、礦物、陶瓷以及有機材料等。
XDV-SDD型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀
日期:2024-10-20 21:18:04 點擊:720
XDV-SDD型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及經行痕量分析。其配備了高精度、可編程運行的 X/Y 軸工作臺,是全自動測量樣品的理想設備。
菲希爾_HM2000S微納米壓痕儀FISCHERSCOPE? HM2000
日期:2024-10-20 21:16:18 點擊:678
菲希爾_HM2000S微納米壓痕儀FISCHERSCOPE? HM2000是一款遵循國際標準DIN EN ISO 14577,采用儀器化壓入測試方法的高性價比納米壓痕儀。采用該儀器,可測量難以對位的被測位置,十分適用于研發、質量控制、來料檢驗和過程控制等領域。
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