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菲希爾FMP30 鐵素體儀FERITSCOPE_FMP30侵蝕性物質以及高壓的情況下，鐵素體含量至關重要。特別是涉及到化工廠、能源設施及工廠中的現(xiàn)場測量時，F(xiàn)ISCHER 手持式設備的優(yōu)勢將非常顯著。為 FERITSCOPE FMP30 提供多種探頭，通過這些探頭，即使在難以觸及的區(qū)域中也能夠可靠地測定鐵素體的含量。

菲希爾SIGMASCOPE SMP350測定非鐵磁性金屬電導率儀適用于測定非鐵磁性金屬（如鋁或銅）的電導率。通過測得的電導率能夠進一步得出與熱處理材料的硬度與強度相關的結論。從而建立熱損傷與材料疲勞的證據(jù)。為此儀器使用了相敏渦流法。該方法經認證可用于符合標準 DIN EN 2004-1 與 ASTM E 1004 的電導率測量。

菲希爾貴金屬檢測SIGMASCOPE? GOLD破壞性的測試會導致一定量的價值損失。隨著產品線SIGMASCOPE GOLD和X射線的推出，F(xiàn)ISCHER提供了兩種無損的方法，在貴金屬幣和金條的真假需要快速、精確的測試時相得益彰

菲希爾CMS2/STEP庫倫儀COULOSCOPE? CMS2庫侖法金屬鍍層厚度測厚儀作為測量鍍層厚度最簡單的方法之一，庫侖法可以用于各種鍍層組合。 尤其對于多鍍層結構， 當允許破壞性測量時，它提供了一個比X射線更經濟的替代方法。

菲希爾Fischer MMS? INSPECTION DFT+DMP+SPG用于測量和記錄與涂裝過程有關的所有氣象參數(shù)。SPG機型可以在瞬間完成對表面粗糙度的測量。所有這三款儀器都包含于我們的防腐套裝之中。另外還可選擇Bresle鹽分分析套件，用于快速簡便地測量表面鹽污染情況。

菲希爾ST30微米劃痕儀全自動劃痕儀簡介可以用于分析薄膜及涂層材料的結合力和附著力等特性，例如PVD、CVD、PECVD薄膜、感光薄膜、彩繪釉漆、光學薄膜、微電子鍍膜、保護性薄膜、裝飾性涂層等材料表面的附著力、斷裂及形變分析，基體可以為軟質或硬質材料，包括金屬、合金、橡膠、半導體、玻璃、礦物、陶瓷以及有機材料等。

XDV-SDD型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及經行痕量分析。其配備了高精度、可編程運行的 X/Y 軸工作臺，是全自動測量樣品的理想設備。

菲希爾_HM2000S微納米壓痕儀FISCHERSCOPE? HM2000是一款遵循國際標準DIN EN ISO 14577，采用儀器化壓入測試方法的高性價比納米壓痕儀。采用該儀器，可測量難以對位的被測位置，十分適用于研發(fā)、質量控制、來料檢驗和過程控制等領域。

菲希爾Fischer ST200載荷漸進式劃痕儀載荷漸進式的劃痕儀完全規(guī)避了傳統(tǒng)測量手段的弊端，通過不斷增加的載荷很容易在一次測量中找到各個臨界位置，如涂層破裂，破碎或分離點，在可控的實驗室環(huán)境中真實模擬了現(xiàn)實中產品的受力狀態(tài)，更好的檢測了涂層間的結合力以及涂層和基體之間的附著力等性能。 漸進式載荷劃痕示意圖：

菲希爾HM500 LIGHT納米壓痕儀PICODENTOR? HM500是一款遵循國際標準DIN EN ISO 14577-1，采用載荷/壓入深度方法的顯微硬度測量系統(tǒng)。采用該方法時，壓頭——通常為維氏或柏氏壓頭，連續(xù)不斷地以加大載荷的方式壓入被測材料中，然后再行卸載。在整個測量過程中，實時記錄相對應的壓入深度與載荷大小

菲希爾XDL系列X射線熒光鍍層測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL采用了完全基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。其測量范圍為元素氯（17）到鈾（92）。適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監(jiān)控。

菲希爾HM500納米壓痕儀顯微硬度測量系統(tǒng)采用載荷/壓入深度方法的顯微硬度測量系統(tǒng)。采用該方法時，壓頭——通常為維氏或柏氏壓頭，連續(xù)不斷地以加大載荷的方式壓入被測材料中，然后再行卸載。在整個測量過程中，實時記錄相對應的壓入深度與載荷大小