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菲希爾 MMS PC2 模塊化測量系統(tǒng)

發(fā)布時間:2017-10-27 13:49:40 作者:深圳市君達(dá)時代儀器有限公司 閱讀: 6302 次
菲希爾 MMS PC2 模塊化測量系統(tǒng) 模塊化測量系統(tǒng) FISCHERSCOPE MMS PC2,搭載 Windows CE 操作系統(tǒng),是適用于高精度涂鍍層厚度測量與材料測試的理想解決方案。具備通過 LAN 與 USB 連接實現(xiàn)聯(lián)網(wǎng)

菲希爾 MMS PC2 模塊化測量系統(tǒng)

模塊化測量系統(tǒng) FISCHERSCOPE MMS PC2,搭載 Windows™ CE 操作系統(tǒng),是適用于高精度涂鍍層厚度測量與材料測試的理想解決方案。具備通過 LAN 與 USB 連接實現(xiàn)聯(lián)網(wǎng)的功能,因此可以快速地集成至質(zhì)量管理系統(tǒng)和自動化制造過程中。設(shè)備通過插卡實現(xiàn)模塊化設(shè)計,能實現(xiàn)與同名手持式儀器相同的功能。為最大程度地提高適用性,可從豐富的探頭種類中選擇相應(yīng)的探頭,以定量測量樣品的各種屬性和規(guī)格,如涂鍍層厚度、導(dǎo)電性以及鐵素體含量等。
菲希爾 MMS PC2 模塊化測量系統(tǒng)
菲希爾 MMS PC2 模塊化測量系統(tǒng)特性:
堅固耐用且功能豐富的臺式儀器,可用作多功能測量系統(tǒng),并可保存和處理測量數(shù)據(jù)
由于采用模塊化結(jié)構(gòu)以及可交換式探頭,可實現(xiàn)靈活應(yīng)用
將多種物理測量技術(shù)融入單個儀器中,因此極具適用性:振幅與相位敏感電渦流、磁感應(yīng)、β 射線
完善的分析與統(tǒng)計功能
通過大型內(nèi)置觸摸屏或使用鍵盤和鼠標(biāo)進(jìn)行直觀操作
可通過多種接口集成到自動化生產(chǎn)過程中

菲希爾 MMS PC2 模塊化測量系統(tǒng)應(yīng)用:(模塊)
鋼材上的鍍鋅層和油漆涂層;鋁材上的陽極氧化涂層 (PERMASCOPE®)
納米涂層(防指紋)、太陽能電池涂層(薄膜層、CdTe/玻璃底材)、插頭觸點上的鍍金層、焊盤上焊料中的鉛、痕量分析、光敏涂層、油層和蠟層 (BETASCOPE®)
電路板表面和通孔中的鍍銅層測量 (SIGMASCOPE®)
電路板制造過程中,線路板表面銅層厚度測量(不受中間層銅層影響) (SR-SCOPE®)
電路板制造過程中銅上的阻焊層厚度 (PERMASCOPE®)
汽車行業(yè)中,活塞表面上的石墨涂層或制動盤上的防腐蝕涂層 (PERMASCOPE®)
汽車行業(yè)中,活塞表面上的鐵磁性金屬鍍層 (NICKELSCOPE®)
奧氏體或雙相鋼中的鐵素體含量 (PERMASCOPE®)
銅、鋁、鈦等非鐵磁性金屬的導(dǎo)電性 (SIGMASCOPE®)

菲希爾 MMS PC2 模塊化測量系統(tǒng)

PERMASCOPE®模塊
這一插入式模塊使用電磁感應(yīng)和渦流的測試方法。
該模塊適合于測量涂鍍層厚度以及鐵素體含量:
鋼和鐵(Fe)上非鐵磁性鍍層厚度,如鉻、銅、鋅、油漆、搪
瓷或塑料在鐵基材上的厚度。
用于測量在非磁性金屬基材上非鐵磁性非導(dǎo)電鍍層的厚度。如在鋁,銅,鋅上油漆或塑、清漆等的厚度。亦可用于測量鋁基材上陽極氧化層的厚度。

BETASCOPE®模塊
這一插入式模塊采用了Beta背散射方法。幾乎可以測量在任何基材上的任何材料鍍層厚度,只要鍍層材料和基材材料元素間存在至少5個原子序數(shù)的差別。
該模塊應(yīng)用于:
不銹鋼上的納米薄膜(抗指紋膜)
太陽能電池薄膜(玻璃上的CdTe層)
在電鍍廠用手持式探頭經(jīng)濟(jì)地測量單個的鍍層
在油漆制品以及金屬基材上有機(jī)鍍層的厚度.
在金屬薄板生產(chǎn)和處理工業(yè)的防腐蝕油膜,蠟,"Bonazinc"等涂層的質(zhì)量檢測薄片、紡織物

SR-SCOPE®模塊
這一插入式模塊采用了微電阻方法,適合于測量多層板上表面銅鍍層的厚度。尤其是薄的層積板,也是組成多層印刷線路板的起始材料上的銅鍍層,以及帶環(huán)氧間隙層的多層板上銅鍍層的厚度
銅的厚度在0.1至10 µm (0.04 至0.4 mils) 以及5至120 µm (0.2至4.7 mils),不受中間銅層的干擾。

SIGMASCOPE®-PHASCOPE® 1/TEMPERATURE模塊
該模塊采用相位電渦流法,適用于以下測量要求:
非鐵磁性金屬的電導(dǎo)率測量(采用內(nèi)置或外置溫度傳感器可自動補(bǔ)償溫度變化)
非鐵磁性金屬鍍層的厚度,如鋼鐵上的鋅、銅、鋁等,尤其適合表面粗糙的情況或是在非導(dǎo)電基材上的非鐵磁性金屬鍍層測厚。
非鐵磁性低電導(dǎo)率基材上非鐵磁性高電導(dǎo)率金屬鍍層的厚度測量,如黃銅或奧氏體材料上的銅厚測量。
鋼鐵上鎳鍍層的厚度測量。
 

阻焊材料之下的銅層的厚度。
SIGMASCOPE®-PHASCOPE® 2 模塊
此模塊需要配合SIGMASCOPE®-PHASCOPE® 1/TEMPERATURE模塊一起使用。
可以測量PCB板上孔內(nèi)銅層的厚度。
PHASCOPE® DUPLEX 模塊
此模塊集成了磁感應(yīng)法和渦流相位法。,這樣就能測量雙層系統(tǒng)。
只要一次測量就能同時測得Paint/Zn/Steel(雙鍍層)的厚度。
溫度測量模塊
此模塊連接TF100A探頭(探頭使用PT100傳感器)用以測量溫度,測量范圍0--﹢80℃(0--﹢178℉)。在某些測量模式中,溫度測量非常的有用。例如:在Beta射線反向散射法和電阻測試法中作為溫度補(bǔ)償。

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