雙晶線性陣列腐蝕探頭
 檢測光滑表面和在空間極其狹小的區(qū)域進行檢測時擁有優(yōu)化的近表面分辨率雙晶線性陣列探頭包含一組發(fā)射晶片和一組接收晶片，這兩組晶片被分別安裝在切有固定屋頂角的延遲塊的兩部分上。這種配置可以生成在被測工件表面以下聚焦的聲束，從而可大大降低表面反射的波幅。這種配置還可以提高近表面分辨率，得到對諸如點蝕、蠕變損傷和HIC（氫致裂紋）等危害性缺陷的更高的檢出率。
 
 腐蝕檢測掃查方式
 手動和手動編碼
 盡管所有探頭組裝件在裝配了Mini-Wheel或VersaMOUSE掃查器時都可以用作獨立的編碼掃查設備，奧林巴斯的半自動和自動掃查器也可以完成真實2維編碼操作。
 RexoFORM楔塊和VersaMOUSE掃查器可以進行單線編碼掃查，在使用整合型步進點擊按鈕時，還可以進行二維成像操作。
 
 半自動
 MapSCANNER是一種雙軸掃查器，經過優(yōu)化，可以進行腐蝕成像操作。圖中顯示的是與HydroFORM掃查器裝配在一起的MapSCANNER掃查器
 ChainSCANNER是一款用途廣泛的雙軸掃查器，可用于腐蝕成像和焊縫檢測。圖中顯示的是與HydroFORM掃查器裝配在一起的ChainSCANNER掃查器。
 
 自動
 HydroFORM掃查器可以與MapROVER掃查器一起使用，在管材的周向上進行檢測。
 DLA腐蝕探頭在與MapROVER掃查器配套使用時，可用于進行自動檢測。
 SFA1-AUTO楔塊系列可以與MapROVER掃查器一起使用，在管材的縱向上進行檢測。
 MapROVER電動掃查器還可以使用雙晶常規(guī)UT探頭進行檢測。