CT200涂層測厚儀-精度（1%H+1um)覆層測厚儀
CT200涂層測厚儀功能特點：
1.采用碼值穩(wěn)定的AD測量方法，淘汰頻率不穩(wěn)的振蕩電路法，使F1.5示值誤差達到1%H+1 um，高于目前覆層測厚儀普遍的3%H+1 um示值誤差；
2.采用精密檢波電路，50um以下測量值更加穩(wěn)定準確
3.采用數(shù)字技術(shù)，有效減小現(xiàn)場電磁干擾對測值影響。
4.磁性測厚方法(配F型測頭),可無損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)。
5.磁性測厚方法可配F1.5,F3.5,F10多種探頭。探頭采用紅寶石耐磨設計，淘汰鍍鉻設計，延長探頭使用壽命，保持長期使用測量精度。
6.可定制測量范圍從200um到20mm的各種異型F傳感器。
7.渦流測厚方法，配N型測頭測量非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
8.渦流測厚方法可配N1.5,N3.5探頭,可定制測量范圍從200um到20mm的各種異型N傳感器。
9.具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式和單次測量方式
10.具有存貯功能：可同時存貯測量值和測試時間信息
11.操作過程有蜂鳴聲提示
12.設有兩種關(guān)機方式：手動關(guān)機方式和自動關(guān)機方式
13.高亮LED背光顯示，顯示更清晰
14.探頭前端保護套可拆除，適應小尺寸空間測量

CT200涂層測厚儀技術(shù)參數(shù)：

工作原理	磁感應與電渦流
測量范圍	1500um     FN1.5 3500um     FN3.5 7500um    F7.5
低限分辨率	0.1um（0-999.9um）   1um(1000um以上）
示值誤差	1%H+1 um      （F1.5）
測試條件	最小曲率半徑1.5mm      （FN1.5）
	最小面積直徑Φ7mm       （FN1.5）
	基體臨界厚度0.5mm      （FN1.5）
使用環(huán)境	溫度0-40℃
	濕度20-90%
	無強磁場
電源	3.7V鋰電池
充電器	USB
外形尺寸	152*74*35mm
重量	370g
標準配置	主機，探頭，校準片，基體，充電器