日期：2024-10-20 21:13:00 點擊：784
菲希爾XDL系列X射線熒光鍍層測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL采用了完全基本參數法，因此無論是對鍍層系統還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。其測量范圍為元素氯（17）到鈾（92）。適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。
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