X-Strata920 X射線熒光測厚儀
主機內部包含如下主要配置：
-X射線管和高壓發生器
-封氣正比探測器和前置放大器
-CCD觀瞄系統和Z軸程控激光對焦系統
-0.3mm直徑圓形準直器，最小可測量點為直徑約0.5mm的圓面
-加深樣品倉/臺，內部尺寸W236*D430*H160mm，最大適宜測量的樣品尺寸為W118*D215*H150mm
-SmartLink儀器控制操作軟件

X-Strata920 X射線熒光測厚儀隨主機的標準配件：
-電腦一臺，包括Dell主機，鍵盤，鼠標和Windows操作系統
-儀器開機鑰匙一個；
-操作說明書（電子版）；
-波譜校準片一塊；
-出廠證書一套；

（儀器主要參數規格請參考報價附件）
備注：顯示器用戶自行購置

標準片一套（共11片），
包含金，銀，銅，錫，鎳“純元素”各一片；
包含銀薄膜標準片1片，鎳薄膜片2片；金薄膜標準片1片，錫薄膜片1片，銅薄膜標準片1片
X-Strata920 X射線熒光測厚儀

序號	項目	內容
1	測量方向 （射線照射方向）	從上往下，即使樣品表面有一定的幅度或不平整等情況也可輕易對焦
2	外形尺寸	寬x深x高[mm]： 約407 x 770 x 400 mm（不含電腦等）
3	井深式樣品臺	“井深式”樣品倉設計，可以測量很小到很大的廣泛尺寸的樣品/零件 ，可放置樣品最大高度為150mm 。樣品臺支架可放置在“深井”中的4個位置的卡槽上，使得不同樣品都可以方便地測量。 樣品臺支架放置在標準位置（最上層）時，就是“開槽式樣品倉”，可以測量大型平板樣品，如尺寸大于儀器寬度的印制線路板或小型的連接器，接插件樣品。所有樣品可以很方便地放置并定位到待測點。 Z軸自動控制（Z向行程：43mm） 樣品倉內部尺寸：236 x 430 x 160mm  (寬x深x高)
4	X射線源	超薄Be窗微聚焦W陽極靶射線管 產生高通量X射線，經過準直器，得到細束X射線。 這個“聚焦X射線束”可對小樣品或者樣品上小測試點進行高精度的分析。
5	高壓發生器	50 kV, 1.0 mA (50 W) 高壓發生器，高壓多檔可調
6	二次濾光片	鈷二次濾光片，用于準確校正銅鎳之間的相互干擾，合適鎳層的精確測量。
7	準直器	0.3 mm Ø圓形準直器，最小測量點是直徑約0.5mm的圓形，適合大多數類型的樣品。
8	X射線接收器 （探測器）	高分辨率、大面積、封氙氣的正比例計數器（PC） 結合二次濾波器來最大化靈敏度，以獲得最佳元素檢測
9	數字脈沖處理器	4096 通道（CH）數字多道處理器 含死時間校正和脈沖累積消除功能的自動信號處理
10	視屏系統	彩色CCD，30倍光學放大， 200%、300%和400%數字放大。樣品分析區域在用戶界面顯示，清晰、易用。
11	Z軸自動對焦系統	鐳射用于Z軸自動精確定位X射線光管/檢測器與被測樣品到最佳測試距離。 “一鍵操作”將Z軸測試頭移動到最佳位置，同時將樣品圖像定焦（顯示在屏幕上）。 自動而簡單的操作提高儀器測試的再現性，并將人為測量誤差降到最低。  注：最佳測試距離為12.7mm，由X射線測試頭自動調節高度（Z軸）。
12	電源	85~130 或 215~265 伏特，頻率范圍47Hz到63Hz
13	能耗	小于1000W
14	工作溫度	10°C至40°C
15	空氣相對濕度	相對濕度≤ 98 %, 無冷凝水
16	計算機	CPU：Intel Core 2 Duo E7500 2.93GHz 硬盤： 500Gb，內存：2Gb，DVDRW 注：由于計算機系統更新快速，實際配置等同或優于上述規格。
17	操作系統	MicrosoftTM Windows

報價附件之儀器主要規格參數 二（對應報價單號：）

序號	項目	內容
18	可測量的鍍層 元素范圍	元素周期表中22號鈦元素到92號鈾元素
19	可測量的鍍層層數	最多可同時測量4層（不含基材）
20	可測鍍層厚度范圍	通常約0.03微米到30微米，根據不同鍍層元素和鍍層結構不同而不同。
21	典型準確性	第一層（最表面層）：±0.025微米或±5%以較大者計，或更好； 第二次（次表面層）：±0.050微米或±10%以較大者計，或更好； 第三層           ：         ±0.075微米或±15%以較大者計，或更好； （按操作規程，采用0.3mm準直器，對隨儀器配置的標準片進行連續10次測量，測量平均值與標準片標稱值之間的差異作為準確性數據）

*持續改進是我們的宗旨，對上述參數，我們保留在不通知的情況下做調整的權力。