日期：2024-10-20 21:13:00 點擊：784
菲希爾XDL系列X射線熒光鍍層測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL采用了完全基本參數法，因此無論是對鍍層系統還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。其測量范圍為元素氯（17）到鈾（92）。適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。
日期：2018-07-28 21:27:53 點擊：6681
Ficherscoper X-RAY XDV-SDD Ficherscoper X-RAY XDV-SDD 型儀器是為了滿足鍍層厚度測量和材料分析領域的最高要求而專門設計的。在配備了最新的硅漂移探測器后，特別適合于無損測量數納米厚度的
日期：2018-07-28 21:24:25 點擊：6693
Ficherscoper X-RAY XDL X射線熒光光譜儀 Ficherscoper X-RAY XDL X射線熒光光譜儀 配備了比例計數管探測器，適用于質量控制，來料檢驗和生產監控。由于它測量空間大，故而適合測量有復雜幾何
日期：2018-07-28 21:20:20 點擊：15350
菲希爾Ficherscoper X-RAY 4000 X射線熒光光譜儀 用于在線測量的FISCHERSCOPE. X-RAY 這類X射線熒光測量系統，用于連續鍍層厚度測量和分析，主要是為了對生產線進行實時的質量控制而設計的。
日期：2018-07-28 20:46:15 點擊：15592
菲希爾Ficherscoper X-RAY X射線熒光光譜儀 無論是高精度鍍層厚度測量或是精確材料成分分析，FISCHER眾多系列的X射線熒光光譜儀可以為任何應用提供最佳儀器選擇。除了擁有很多的創新和
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